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真理光學(xué)儀器有限公司專注于高端顆粒表征儀器的研發(fā)和制造，產(chǎn)品涵蓋激光（衍射法）粒度分析儀、動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及Zeta電位分析儀以及顆粒圖像分析儀，既有實(shí)驗(yàn)室儀器，又有在線檢測(cè)系統(tǒng)。真理光學(xué)秉持“科學(xué)態(tài)度，工匠精神”，為用戶提供世界先進(jìn)的高端產(chǎn)品和服務(wù)。
真理光學(xué)匯集了以張福根博士為代表的全國(guó)顆粒表征領(lǐng)域的頂尖人才。張福根博士現(xiàn)任本公司董事長(zhǎng)兼首席科學(xué)家，還擔(dān)任全國(guó)顆粒表征及分檢與篩網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)副主任委員、天津大學(xué)兼職教授，曾擔(dān)任中國(guó)顆粒學(xué)會(huì)副理事長(zhǎng)，同時(shí)也是“歐美克”字號(hào)公司的創(chuàng)始人。曾擔(dān)任英國(guó)某粒度儀器公司中國(guó)總經(jīng)理20余年的秦和義先生擔(dān)任本公司商務(wù)總經(jīng)理，中國(guó)顆粒學(xué)會(huì)青年理事潘林超博士、陳進(jìn)博士擔(dān)綱公司的研發(fā)主力。
激光（衍射法）粒度儀雖然已得到廣泛應(yīng)用，但它并不完美，不論是科學(xué)基礎(chǔ)方面，還是技術(shù)方案方面。真理光學(xué)的團(tuán)隊(duì)針對(duì)當(dāng)前市面上儀器存在的不足，展開了系統(tǒng)的理論研究和技術(shù)創(chuàng)新，發(fā)現(xiàn)了衍射光斑（愛里斑）的反常變化現(xiàn)象（ACAD），解釋了為什么不能測(cè)量3μm左右的聚苯乙烯微球，并給出了反常區(qū)（不能測(cè)量粒徑）的一般公式；研究了衍射儀器的測(cè)量上限和下限；研究了顆粒折射率偏差對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，發(fā)明了兩種根據(jù)散射光分布估算顆粒折射率的方法;提出了斜置梯形窗口技術(shù)方案（專利），解決了前向超大角測(cè)量盲區(qū)的問題，使衍射儀器的亞微米顆粒測(cè)量水平顯著提高;提出了統(tǒng)一的反演算法（專有技術(shù)），消除了不同計(jì)算模式給出不同結(jié)果的尷尬；設(shè)計(jì)出了高達(dá)20Kfps的超高速并行數(shù)據(jù)采樣電路，使干法測(cè)量的精度不亞于濕法測(cè)量，對(duì)高速噴霧場(chǎng)的測(cè)量（時(shí)間）分辨率也更高。
在納米粒度及Zeta電位儀方面，真理光學(xué)提出了比相位分析法（PALS）更先進(jìn)的余弦擬合相位分析法（CF-PALS），用光纖分束取代了傳統(tǒng)的平板分束鏡分束，用光纖內(nèi)光干涉取代了自由空間干涉，使Zeta電位的測(cè)量重復(fù)性大幅度提高。
真理光學(xué)閃耀2025全國(guó)精密研磨拋光技術(shù)論壇，推廣納米粒度檢測(cè)技術(shù)，助力產(chǎn)業(yè)升級(jí)
真理光學(xué)梯形專利技術(shù)解決亞微米測(cè)量盲區(qū)痛點(diǎn)，為砂磨制程提供數(shù)據(jù)支撐，提升陶瓷致密性與成品良率
第37屆"2025國(guó)際橡塑展"將于2025年4月15-18日在深圳國(guó)際會(huì)展中心（寶安）舉行，當(dāng)下正處于以AI大模型及人形機(jī)器人規(guī)模應(yīng)用，機(jī)器學(xué)習(xí)、視覺檢測(cè)、協(xié)作機(jī)器人等技術(shù)為核心的工業(yè)4.0加速階段落地，Chinaplas橡塑展位作為每年橡塑工業(yè)的方向標(biāo)，你一定不能錯(cuò)過
中國(guó)先進(jìn)陶瓷材料、磁性材料及粉末冶金領(lǐng)域盛會(huì)--2025第十七屆中國(guó)國(guó)際先進(jìn)陶瓷展覽會(huì)將于下周一在上海世博會(huì)展覽館H2館盛大開幕！作為中國(guó)高端激光粒度分析儀器的領(lǐng)軍企業(yè)，珠海真理光學(xué)儀器有限公司將再次盛裝參展，攜多款創(chuàng)新產(chǎn)品亮相，助力高端制造領(lǐng)域的快速發(fā)展！
真理光學(xué)儀器專注于高端顆粒表征技術(shù)，其產(chǎn)品以高精度、寬量程和智能化著稱，為氧化鎂粉體的研發(fā)與生產(chǎn)提供了全流程解決方案，主打產(chǎn)品LT全系列激光粒度分析儀產(chǎn)品，全量程覆蓋，0.015~3600μm，無需更換透鏡或標(biāo)準(zhǔn)樣校準(zhǔn)，支持干濕法兩用。
粒度分布檢測(cè)儀是一種在眾多領(lǐng)域有著關(guān)鍵應(yīng)用的儀器設(shè)備，其基于科學(xué)原理對(duì)顆粒的粒度分布進(jìn)行精確檢測(cè)，為各行業(yè)的生產(chǎn)、研究和質(zhì)量控制等提供重要依據(jù)
在眾多生產(chǎn)領(lǐng)域中，粒徑大小對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量有著至關(guān)重要的影響。粒徑儀作為專門用于測(cè)量顆粒大小的精密儀器，在提高生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制方面發(fā)揮著重要的作用
納米粒度儀的測(cè)量穩(wěn)定性直接影響分析結(jié)果的可靠性，需要從儀器狀態(tài)、環(huán)境控制、操作規(guī)范等多方面進(jìn)行系統(tǒng)優(yōu)化
選擇合適的粒徑測(cè)量?jī)x進(jìn)行高精度分析需要綜合考慮多方面因素，以確保測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確可靠
粉體粒度儀作為粉體生產(chǎn)過程中的關(guān)鍵檢測(cè)工具，通過精準(zhǔn)分析顆粒大小與分布，在提升生產(chǎn)效率、保障產(chǎn)品質(zhì)量方面發(fā)揮著重要的作用
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